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Thickness Measurement of Insulation Coating by NIR Spectrometry Based on Boosting-KPLS
HAO Hui-min 1,2LI Shi-wei 3ZHANG Wen-dong 1LI Peng-wei 1[ ... ]ZHANG Yong 5
作者单位
摘要
1 Micro/Nano System Research Center, Taiyuan University of Technology, Taiyuan 030024, China
2 Automation Company of TISCO, Taiyuan 030003, China
3 Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi’an 710024, China
4 Department of Research and Development, Brimrose Corporation of America, Baltimore 21152-9201, USA
5 State Key Laboratory of Electrical Insulation for Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China
Insulation coating Thickness measurement DBPSO Boosting KPLS 
PDF全文 Full Text
光谱学与光谱分析
2011, 31(8): 2081
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